产品中心

PRODUCT CENTER
您的位置:首页 > 产品中心 > 半导体XRAY检测设备  >  半自动芯片XRAY检测设备  >  XG5010半导体XRAY检测设备

半导体XRAY检测设备

描述:半导体XRAY检测设备
采用X光透射成像原理,X光管和成像系统在有进口和出口的柜式箱体内,内有用于装夹被检物料的模组组成的CNC系统。通过 CNC运动对被检物料进行自动测量。根据设定的判断标准自动判断OK或NG,并通过皮带输送、机械手进行分检,分别堆叠到位置。

  • 01/

    产品型号:XG5010
  • 02/

    厂商性质:生产厂家
  • 03/

    更新时间:2023-03-10
  • 04/

    访问量:1634
相关文章

Articles

详细内容/ Product Details
品牌其他品牌产地类别国产
应用领域环保,能源,电子,汽车,综合

半导体XRAY检测设备应用简介:


XRAY检测设备采用X光透射原理,对被测物进行实时在线检测分析,广泛应用于电池行业,主要对产品内部缺陷进行实效分析。该装备配置一套自主研发的自动测量软件,能对被测对象进行自动测量和自动判断,并显示判断结果界面,使用户可以轻松挑出不良品。

半导体XRAY检测设备产品特色:


测量功能:直线距离、圆直径、同心圆、点与圆心距离等测量。

CNC功能: 记忆编程,自动记录检测运动路径,定位准确,方便小批量重复检测。

导航定位功能:超大导航窗口,鼠标点击被测图像任意区域,自动快速定位到目标检测点。

图像处理功能:支持多种图像格式,对检测图像可进行实时处理和在线保存。


image.png

XRAY设备机械运动结构:

·载物台固定;

·X光管、图像增强器三轴运动(X、Y、Z)速度可控;

·运动装置配备滚珠丝杆,同步轮步进驱动,使运动更加平滑、稳定。


检测流程:

image.png

技术参数:

项目

XG5010技术参数

光管

光管电压

90KV

光管电流

200uA(软件限值89uA)

聚焦尺寸

5um

冷却方式

强制风冷

成像系统

视场

2"/4"

解析度

75/110  lp/cm

X-CCD分辨率

1392*1040P

几何放大倍率

12-48X

检测效率与精度

重复测试精度

60um

软件检检测速度

1.5/检测点(不含上下料和运动时间)

载物台

标准尺寸

515mmX460mm

有效检测区域

450mmX410mm

载重量

5Kg

安全标准

国际辐射安全标准

1μSV/hr

其他参数

计算机

22"宽屏液晶显示器/触摸屏显示器/I5处理器/内存4G/硬盘500G

尺寸/重量

1136mm*1076mm*1730mm 约750Kg

电源

AC220V 10A

温度和湿度

25 ℃±3 RH50%±10%





留言询价/ Message inquiry

留言框

  • 产品:

  • 您的单位:

  • 您的姓名:

  • 联系电话:

  • 常用邮箱:

  • 省份:

  • 详细地址:

  • 补充说明:

  • 验证码:

    请输入计算结果(填写阿拉伯数字),如:三加四=7