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X射线荧光镀层测厚及材料分析仪X-RAY XDV-SDD

描述:品牌:菲希尔样品电大高度:140mmX/Y轴平台移动速度:60mm/s

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    厂商性质:生产厂家
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    更新时间:2023-10-18
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    访问量:193

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4006655066
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详细内容/ Product Details
  X-RAY XDV-SDD是一款应用广泛的能量色散型X射线荧光镀层侧厚及材料分析仪。它特别适合用于测量和分析超薄镀层及进行痕量分析。其配备了高精度、可编程的X/Y轴工作台,是全自动测量样品的理想设备。

1.分析超薄镀层,如:厚度≤0.1umAuPa镀层;

2.印刷线路板上RoHsWEEE要求的痕量分析;

3.黄金成分分析

4.测量电子工业或半导体工业中的功能性镀层;

5.分析复杂的多镀层系统;

6.全自动测量,如:用于质量控制领域。

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