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X射线镀层测厚仪XDLM231/237

描述:品牌:菲希尔型号:XDLM231/237样品高度:140mm

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    产品型号:
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    厂商性质:生产厂家
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    更新时间:2023-10-18
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    访问量:180

公司产品系列

Product range

咨询热线:

4006655066
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详细内容/ Product Details
  可用于测量所有金属镀层的厚度以及多镀层或者合金成分分析,也可以进行电解溶液含量成份分析,带有国家豁免证书,无放射源设计,安全环保。主要用于微小结构的印刷线路板、电气元件及大规模生产的零部件上的镀层测量、分析。

1、测量大规模生产的电镀零部件;

2、测量微小区域上的薄镀层;

3、测量电子工业或半导体工业中的功能性镀层;

4、全自动测量,如测量印刷线路板。

                    型号

项目

XDLM-231

XDLM-237

通用规格

设计用途

能量色散X射线荧光光谱仪 (EDXRF) ,测量薄镀层和微小结构样品,分析合金组分

元素范围

从元素氯 (17) 到铀 (92),最多可以同时测定24种元素






工作台


平台

固定式样品平台

马达驱动可编程X/Y平台

可用样品平台

463mm x 500mm

300mm x 350mm

X/Y平台移动距离

/

255mm x 235mm

X/Y平台移动速度

/

≤80mm/s

X/Y平台移动重复精度

/

≤0.01mm(单向)

样品重量

20kg

5kg,降低精度可达20kg

样品高度

140mm

电气参数

电原要求

AC 220V 50HZ

功耗

120W(测量头,不包括计算机)

保护等级

IP40

环境要求


使用温度

10℃-40℃

存储或运输时温度

0℃-50℃

空气相对湿度

≤95%,不结露

计算单元

计算机

Windows®-PC

软件

标准:Fischer WinFTM® BASIC

可选:Fischer WinFTM® PDM®,SUPER

尺寸规格

外部尺寸

570mm×760mm×650mm

内部测量舱尺寸

460mm x 495mm x146mm

重量

100kg

120kg

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